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分類篩選

放射照像檢測> 牙科X線成像性能測試> 全景牙科攝影測試模型>

YZC1732F2 頭影畸變測試卡（201042）

產(chǎn)品型號：

201042

標(biāo)　　準(zhǔn)：

YY/T 1732-2020 口腔曲面體層X射線機專用技術(shù)條件

應(yīng)用范圍：

測試卡置于成像基準(zhǔn)面上，使網(wǎng)格軸線與視野軸平行，曝光。計算X軸，Y軸雙端完整網(wǎng)格線，4線交點與其視野軸線的交點按照公式計算。

產(chǎn)品簡介：

測量頭影圖像畸變率

技術(shù)參數(shù):

1.基礎(chǔ)材質(zhì)PMMA，矩形測試卡，340x280mm

2.測試插件：26行x32列，832個測試點，鋼，正方形，厚度2mm，邊長10mm，棋盤格型交替分布

商品詳情：

訂貨號201042：頭影畸變測試卡

標(biāo)準(zhǔn)配置：頭影畸變測試卡1只，測試報告1份，便攜箱1只

訂貨信息：

訂貨號	配置及描述	期貨價	現(xiàn)貨庫存	訂購數(shù)量	選擇
201042	YZC1732F2 頭影畸變測試卡（201042）	0	1

分類篩選

急救醫(yī)學(xué)檢測

檢驗實驗設(shè)備檢測

醫(yī)電安全檢測

放射照像檢測

骨密度質(zhì)控檢測

核磁共振檢測

醫(yī)用超聲檢測

核醫(yī)學(xué)質(zhì)控檢測

放射治療檢測

壓力校準(zhǔn)測試

溫度校準(zhǔn)測試

環(huán)境防護檢測

機械防護檢測

客戶訂制加工

檢測解決方案

放射照像檢測> 牙科X線成像性能測試> 全景牙科攝影測試模型>

YZC1732F2 頭影畸變測試卡（201042）

產(chǎn)品型號：

標(biāo)　　準(zhǔn)：

應(yīng)用范圍：

產(chǎn)品簡介：

技術(shù)參數(shù):

商品詳情：

訂貨信息：

分類篩選

YZC1732F2 頭影畸變測試卡（201042）

產(chǎn)品型號：

標(biāo) 準(zhǔn)：

應(yīng)用范圍：

產(chǎn)品簡介：

技術(shù)參數(shù):

商品詳情：

訂貨信息：

標(biāo)　　準(zhǔn)：